Schaltverluste von Wide-Bandgap Halbleitern messen? Ohne zusätzliche Parasiten unter realen Bedingungen?
Klassische Methoden Schaltverluste zu messen, wie der Doppelpuls, verwenden die Messung des Stromes durch den Halbleiter und dessen Spannungsabfall im Schaltmoment. Die parasitären Effekte der Messgeräte beeinflussen die Messungen negativ, sodass die angezeigten Schaltverluste nicht der Realität entsprechen.
Für die Lösung des Problems wurden verschiedene Messmethoden entwickelt, die Schaltverluste passiv unter realen Arbeitsbedingungen messen. Die Schaltverluste können bestimmt werden für verschiedene Spannungen, Ströme und Temperaturen. Die Schaltzelle muss nicht modifiziert werden, sodass voll integrierte Module vermessen werden können.