Ausstattung

Das OBR 4600 von der Firma LUNA Technologies verwendet das Prinzip der kohärenten Interferometrie (OFDR, optical frequency domain reflectometry). Mithilfe einer durchstimmbaren Laserquelle kann eine bis in den Mikrometerbereich ortsaufgelöste Reflektometrie an typisch faseroptischen Systemen bei Wellenlängen um 1550 nm vorgenommen werden. Dabei kann die Güte von optischen Verbindungen ohne Vorlauffasern oder Totzeiten bis in den Mikrometerbereich hinunter ausgemessen werden. Das Messprinzip spricht auch sehr empfindlich auf lokale Temperaturüberhöhungen oder mechanischen Stress ein einem faseroptischen Strang an, so dass auch Anwendungen im Bereich Strukturüberwachung von Anlagen und Bauwerken möglich sind (SHM, structural health monitoring, mit oder ohne Faser-Bragg-Gratings FBG).

In der Gruppe OIT werden mit dem OBR 4600 zusätzlich auch selbsthergestellte optisch-integrierte Aufbauten wie Dünngläser mit eindiffundierten Wellenleiter oder auch kleine freistrahloptische  Systeme charakterisiert.

Hervorzuhebende Systemeigenschaften:
 

• Wellenlängenbereich von 1525 nm bis 1610 nm
• Maximale Länge des optischen Pfads 30 m oder 70 m
• Räumliche Auflösung 10 µm @ 30 m oder 20 µm @ 70 m
• Messzeiten typisch unter 10 s
• Dynamikbereich 70 dB
• Empfindlichkeit -130 dB
• Auflösung ± 0.05 dB
• Genauigkeit ± 0.1 dB