- CCD Metrologie Messsystem / 3D Topographie - Messsystem
- Matrix Farb-CCD Kamera / Weißlicht-Interferometrie
- Messbereich: 700x650mm2
- Ges. Systemgenauigkeit:
- X-Y: CCD = +/- 0,003 mm (mind. 150-fache Vergrößerung)
Bei welchen Prozessen und Projekten wird die Anlage verwendet:
- Auto. vermessen von Bohrlochdurchmessern (Vergleich Ist- zu Solldurchmesser)
- Auto. vermessen von X-Y Positionen (Vergleich Ist- zu Sollposition)
- Vermessen von Chippositionen (Erzeugung von Designdaten)
- Vermessen von Leiterbahnen (Breite/Länge)
- Vermessen von Verdrehungen (Winkel)
- Vermessen von Höhenprofilen