Spezifikationen: CCD Metrologie Messsystem / 3D Topographie - Messsystem - Matrix Farb-CCD Kamera / Weißlicht-Interferometrie Messbereich: 700x650mm2 Ges. Systemgenauigkeit: - X-Y: CCD = +/- 0,003 mm (mind. 150-fache Vergrößerung) Bei welchen Prozessen und Projekten wird die Anlage verwendet: Auto. vermessen von Bohrlochdurchmessern (Vergleich Ist- zu Solldurchmesser) Auto. vermessen von X-Y Positionen (Vergleich Ist- zu Sollposition) Vermessen von Chippositionen (Erzeugung von Designdaten) Vermessen von Leiterbahnen (Breite/Länge) Vermessen von Verdrehungen (Winkel) Vermessen von Höhenprofilen