In Anerkennung seiner herausragenden Forschungsarbeiten erhielt Ivan Ndip (Doktorand und Ingenieur am Fraunhofer IZM) einen Silver Leaf Certificate Award bei der IEEE Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics (PRIME 2006).

Das von Ivan Ndip bei der PRIME 2006 präsentierte Paper “A Novel Methodology for Defining the Boundaries of Geometrical Discontinuities in Electronic Packages” baut auf seiner Doktorarbeit, die von Professor Herbert Reichl betreut wird, auf.

Die PRIME Konferenz bietet Doktoranden aus aller Welt ein Forum, ihre Forschungsarbeiten zu präsentieren und sich mit anderen Forschern auszutauschen. Finanziell unterstützt wird die Veranstaltung von der IEEE Circuits and Systems Society (CAS). Die PRIME 2006 fand vom 11. -15. Juni 2006 in Otranto (Lecce), Italien statt.