Nürnberg Messe / 06. Mai 2025 - 08. Mai 2025
Das Fraunhofer IZM auf der Sensor+Test
Halle 1, Stand 1-317
Halle 1, Stand 1-317
Das Fraunhofer IZM zeigt auf dem Fraunhofer Gemeinschaftsstand innovative Hardware-Konzepte und energieeffiziente Lösungen für hochminiaturisierte Sensorsysteme (Green ICT) sowie aktuelle Forschungsergebnisse im Bereich Advanced-Packaging und Systemintegration für Smart Systems.
Lernen Sie unsere Expert*innen aus den Abteilungen RF & Smart Sensor Systems und Wafer Level System Integration kennen und tauschen Sie Erfahrungen aus.
Energieeffizienz und ökologisches Design der Hardware spielen eine Schlüsselrolle bei der Entwicklung und Umsetzung von autarken eingebetteten Systemen, Sensorknoten und -netzwerken für die Anwendung im Bereich Smart Farming, Smart Factory und Smart City.
Das Fraunhofer IZM präsentiert zwei Plug & Play-Sensorplattformen, mit denen Konzeptideen für drahtlose Sensorik und auch Radarsensorik schnell getestet und validiert werden können. Dank einheitlicher Schnittstellen und dem Lego-Prinzip für Konfigurationsschritte, Module und Baugruppen entfällt die aufwendige individuelle Konfiguration von Sensorik und Datenauswertung.
Mit umfangreichem Know-how in der Herstellung hochdichter flexibler oder starr-flexibler Multilayer-Schaltungen ist das Fraunhofer IZM führend. Durch die Vorführung eines Strömungssensors zur Zustandsüberwachung mit eingebetteter Sensorik in Rigid/Flex-Technologie wird die Anwendung der Wafer Level Redistribution Technologie auf temporären Trägerwafern präsentiert.
Für Synchrotronstrahlungsexperimente und Röntgenbildgebungsanwendungen sind hybride Pixeldetektormodule die Spitzenklasse in Röntgenkameras. Anhand eines X-Ray Detektors in Ausführung eines USB-Sticks demonstriert die Abteilung »Wafer Level System Integration« ihre Kompetenz in der Aufbau- und Verbindungstechnik für derartige hybride Pixeldetektorsysteme.
Zudem werden die folgenden Exponate ausgestellt: