Seminar / 21. November 2024 - 22. November 2024, 10:00-17:00 // 9:00-17:00
Zuverlässigkeit elektronischer Systeme
Durch kürzere Entwicklungszeiten und höhere Anforderungen an elektronische Komponenten und Systeme nimmt die Bewertung der Zuverlässigkeit eine immer größere und wichtigere Rolle ein. Das Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM) organisiert ein zweitägiges Seminar, welches den Teilnehmer*innen die hierfür relevanten Methoden und Werkzeuge entlang des Produktentwicklungsprozesses vermittelt.
Zur Absicherung der Zuverlässigkeit elektronischer Systeme in allen Entwicklungsphasen liegt der Fokus auf den Themenfeldern:
- Definition und Einordnung wichtiger Begriffe
- Methoden zur Systembewertung
- Einflüsse von Belastungen und deren Ausfallmechanismen
- Empirische und physikalische Alterungsmodelle
- Simulationssystematik
- Realitätsnahe Umsetzung von Belastungstests
- Interpretation und Auswertung von Versuchsergebnissen
- Umgang mit Zuverlässigkeitskennwerten
- Absicherung der Zuverlässigkeit durch Zustandsüberwachung
- Analytische Messmethoden
Zeitplanung:
- Donnerstag, 21.11.: 10:00 - 17:00, gefolgt von einem organisiertem Abendessen
- Freitag, 22.11.: 09:00 - 17:00 (inkl. techn. Teil und Lab-Touren)